Измерение тепловых сопротивлений силовых полупроводниковых приборов

Герман, Е. В.; Гармилин, Е. В.; Herman, Y. V.; Harmilin, Y. V.

Измерение тепловых сопротивлений силовых полупроводниковых приборов

Герман, Е. В., Гармилин, Е. В., Herman, Y. V., Harmilin, Y. V.

Дата публикации: 2021

Дата публикации в реестре: 2021-08-05T18:01:43Z

Аннотация:

В работе рассмотрены особенности измерения тепловых сопротивлений силовых полупроводниковых приборов: представлены формулы, практические особенности, термограммы распределения температур на МОП транзисторах, включенных с радиатором и без, рассчитаны численные значения сопротивлений. The paper considers the features of measuring the thermal resistances of power semiconductor devices: formulas, practical features, thermograms of the temperature distribution on MOS transistors connected with and without a radiator are presented, the numerical values of the resistances are calculated.

Ключевые слова:
материалы конференций, полупроводниковые приборы, интегральные микросхемы, semiconductor devices, integrated microcircuits

Тип: Статья