МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ ТЕХНИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК ЖИДКОКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ И ТОНКОПЛЕНОЧНЫХ ЭЛЕКТРОЛЮМИНЕСЦЕНТНЫХ СТРУКТУР

Максимова О.В.; Мойсеенко С.В.

МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ ТЕХНИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК ЖИДКОКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ И ТОНКОПЛЕНОЧНЫХ ЭЛЕКТРОЛЮМИНЕСЦЕНТНЫХ СТРУКТУР

Дата публикации в реестре: 2021-08-05T20:12:12Z

Аннотация:

Представлена фундаментальная научная проблема экспериментального и теоретического исследования характеристик материалов для перспективных плоскопанельных средств отображения информации, а также разработаны новые методов исследования перспективных материалов.

Ключевые слова:
тонкопленочный индикатор, светоотдача, жидкие кристаллы, автоматизация, формализация, измерения, электролюминесценция

Тип: Article

Права: open access

Источник: Современные проблемы проектирования, производства и эксплуатации радиотехнических систем