Analytical technologies for thin coating element material diagnostics with PXWR application - «Национальный агрегатор открытых репозиториев российских университетов» (НОРА)

Материалов:
1 005 012

Репозиториев:
30

Авторов:
761 409

расширенный поиск

Analytical technologies for thin coating element material diagnostics with PXWR application

Дата публикации в реестре: 2021-08-05T20:45:41Z

Аннотация:

Ключевые слова:
Coatings, Rutherford backscattering spectroscopy, Space applications, Space flight, Space platforms, Spectrometry, Trace analysis, X rays, Analytical technology, Experimental investigations, Non-destructive analysis, Proton induced x-ray emissions, Rutherford back-scattering spectrometry, Thin surface layer, Thin-film coatings, Trace element concentrations, Trace elements

Тип: Article

Права: open access

Источник: Advances in the Astronautical Sciences

Связанные документы (рекомендация CORE)