О влиянии асимметрии отражения на когерентное излучение релятивистских электронов в кристаллах

Внуков, И. Е.; Волков, И. С.; Гопонов, Ю. А.; Сиднин, М. А.; Шатохин, Р. А.

О влиянии асимметрии отражения на когерентное излучение релятивистских электронов в кристаллах

Внуков, И. Е., Волков, И. С., Гопонов, Ю. А., Сиднин, М. А., Шатохин, Р. А.

Дата публикации: 2020

Дата публикации в реестре: 2022-10-06T12:36:24Z

Аннотация:

Модифицирована предложенная ранее методика расчета выхода дифрагированных реальных фотонов в совершенных кристаллах с использованием подхода Дарвина и Принса о многократных не отражениях фотонов на отражающих плоскостях кристалла с помощью метода Монте-Карло. Обсуждается влияние асимметрии отражающей плоскости относительно выходной поверхности на выход дифрагированного излучения. Анализируются результаты измерений угловых распределений излучения параметрического рентгеновского излучения релятивистских электронов в кристаллах, в которых отражающая плоскость была не перпендикулярна выходной поверхности

Ключевые слова:
физика, оптика, рентгеновское излучение, дифракция, моделирование, метод Монте-Карло, асимметрия, кристаллы, электроны

Тип: Article