Метод дифракции отраженных электронов открывает новые возможности получения информации по ориентации кристаллов и дефектах кристаллического строения. В статье рассмотрено применение этого метода для исследования деформации и рекристаллизации минералов. Показана возможность использования этого метода для определения характеристик границ и двойников. Описаны возможности и ограничения по исследованию кристаллографической текстуры минералов и фазовому анализу.
Источник: Динамика и взаимодействие геосфер Земли : материалы Всероссийской конференции с международным участием, посвященной 100-летию подготовки в Томском государственном университете специалистов в области наук о Земле, 8-12 ноября 2021 года. Томск, 2021. Т. 1. С. 319-322