Способ контроля прочности внутренних выводов полупроводниковых интегральных схем - «Национальный агрегатор открытых репозиториев российских университетов» (НОРА)

Материалов:
1 005 012

Репозиториев:
30

Авторов:
596 024

расширенный поиск

Способ контроля прочности внутренних выводов полупроводниковых интегральных схем

Лифанов, Д. В., Хлопов, Ю. Н., Чернуха, Б. Н.

Дата публикации: 1982

Дата публикации в реестре: 2024-03-01T13:44:10Z

Аннотация:

Изобретение относится к контрольно-испытательной технике.

Ключевые слова:
патенты, контрольно-испытательная техника, полупроводники, интегральные схемы

Тип: Other

Связанные документы (рекомендация CORE)