Исследование тонкопленочной системы Si-Fe-Si после отжига в вакууме методом атомно-силовой микроскопии - «Национальный агрегатор открытых репозиториев российских университетов» (НОРА)

Материалов:
1 005 012

Репозиториев:
30

Авторов:
596 024

расширенный поиск

Исследование тонкопленочной системы Si-Fe-Si после отжига в вакууме методом атомно-силовой микроскопии

Маркевич, М. И., Щербакова, Е. Н.

Дата публикации: 2018

Дата публикации в реестре: 2020-02-28T12:36:02Z

Тип: Научный доклад (Working Paper)

Связанные документы (рекомендация CORE)