Исследование полупроводникового соединения СuAlO2 методом ЯКР Cu

Матухин, Вадим Леонидович; Хабибуллин, Илдар Хайдарович; Шульгин, Дмитрий Анатольевич; Шмидт, Станислав Владимирович

Исследование полупроводникового соединения СuAlO2 методом ЯКР Cu

Матухин, Вадим Леонидович, Хабибуллин, Илдар Хайдарович, Шульгин, Дмитрий Анатольевич, Шмидт, Станислав Владимирович

Дата публикации: 2012

Дата публикации в реестре: 2024-07-01T17:19:34Z

Аннотация:

Методом ядерного квадрупольного резонанса Cu (ЯКР Cu) исследованы образцы полупроводникового соединения CuAlO2. Кристаллическая структура CuAlO2 относится к семейству делафоссита – минерала основного состава CuFeO2. Прозрачные полупроводниковые оксиды, такие, как CuAlO2, привлекли в последнее время большое внимание в качестве перспективных термоэлектрических материалов.

Ключевые слова:
ядерный квадрупольный резонанс, полупроводниковые оксиды, электрические поля градиентные, термоэлектрические материалы, полупроводники

Тип: статьи в журналах

Источник: Известия высших учебных заведений. Физика. 2012. Т. 55, № 2. С. 53-56