Старение интегральных микросхем при длительном низкоинтенсивном облучении гамма-лучами - «Национальный агрегатор открытых репозиториев российских университетов» (НОРА)

Материалов:
1 005 012

Репозиториев:
30

Авторов:
761 409

расширенный поиск

Старение интегральных микросхем при длительном низкоинтенсивном облучении гамма-лучами

Попов В.Д.

Дата публикации в реестре: 2024-10-01T17:46:58Z

Аннотация:

Представлены экспериментальные данные и дается прогноз изменения плотности поверхностных дефектов при разных мощностях дозы ионизирующего излучения.

Тип: Article

Источник: Инженерные системы-2015: сборник трудов VIII международной научно-практической конференции. Москва, 20-22 апреля 2015 г.

Связанные документы (рекомендация CORE)