Стабильность электрических характеристик МОП-структур на основе оксида галлияСтабильность электрических характеристик
МОП-структур на основе оксида галлия
Моделирование радиационной стойкости элементов логических КМОП интегральных микросхем-канальных металл-окисел-полупроводник (
МОП) транзисторов – элементов
комплементарных
МОП интегральных
Конструкция ТРЕНЧ МОП диода ШотткиВР, VT4045ВР, VT4045С фирмы
Vishay Intertechnology изготовлены по субмикронной ТРЕНЧ
МОП Радиационные эффекты в элементах субмикронных КМОП интегральных схемКоршунов, Ф. П.,
Богатырев, Ю. В.,
Белоус, А. И.,
Шведов, С. В.,
Малышев, В. С.,
Ластовский, С. Б.,
Карась, В. И.,
Гуринович, В. А. (
МОП)-структур, а также n- и р-канальных
МОП-транзисторов (МОПТ):
элементов субмикронных (0
Моделирование прямой ветви вольт-амперных характеристик диодов Шоттки с МОП-канавками характеристики диодов Шоттки с канавочной структурой металл – окисел – полупроводник (
МОП), учитывающей