Поиск

Материалов:
1 005 012

Репозиториев:
30

Авторов:
761 409

Автор

Ключевое слово

Тип статьи

DOI

ORCID

Дополнительно:

Период публикации

Репозиторий

По вашему запросу найдено документов: 526325

Страница 1 из 52633

Разработка методик контроля деградации тока- стока МОП-транзисторов под влиянием «горячих» носителей

Жуков, А.П., Петлицкий, А.Н.

Обучение тестированию безопасности web-ресурсов

Медведев, О. С., Довгун, М. А., Петлицкий, Н. О.

Высокоэнергетические процессы при соударении преграды с космической пылью

Ушеренко, С. М., Петлицкий, А. Н., Ушеренко, Ю. С.

Регистрация фотонов рентгеновского диапазона при помощи ПЗС матриц

Трапенок, Н. В., Балухо, И. Н., Петлицкий, А. Н., Дудчик, Ю. И., Кольчевский, Н. Н.

Определение диэлектрической проницаемости немагнитных жидкостей

Петрович, В. А., Завацкий, С. А., Волчёк, С. А., Серенков, В. Ю., Петлицкий, А. Н.

Определение иммитансных характеристик деионизованной воды

Волчёк, С. А., Завацкий, С. А., Петрович, В. А., Серенков, В. Ю., Петлицкий, А. Н.

Метод бесконтактного измерения удельного электрического сопротивления барьерных слоев

Воробей, Р. И., Гусев, О. К., Свистун, А. И., Тявловский, К. Л., Петлицкий, А. Н., Пилипенко, В. А.

Моделирование обратной ветви вольтамерной характеристики кремниевого диода многочастичным методом Монте-Карло

Борздов, А. В., Борздов, В. М., Кучинский, П. В., Петлицкий, А. Н.

Экспресс-контроль элементов интегральных схем с использованием растровой электронной микроскопии и режима наведенного тока

Петлицкий, А. Н., Жигулин, Д. В., Ланин, В. Л.

Экспресс-контроль элементов интегральных микросхем с использованием растровой электронной микроскопии и режима наведенного тока

Петлицкий, А. Н., Жигулин, Д. А., Ланин, В. Л.

Страница 1 из 52633