Тепловые модели отказов полупроводниковых структур при воздействии мощных электромагнитных импульсов

Алексеев, В. Ф.

Тепловые модели отказов полупроводниковых структур при воздействии мощных электромагнитных импульсов

Дата публикации: 2005

Дата публикации в реестре: 2021-08-05T17:36:30Z

Аннотация:

Приведен анализ тепловых моделей, описывающих деградацию полупроводниковых структур (ПС) на воздействие мощных электромагнитных импульсов (МЭМИ). Показаны основные способы описания тепловой нестационарности в полупроводниковом кристалле при импульсном нагреве в зависимости от мощности и длительности импульса. Обсуждается необходимость учета температурной зависимости теплофизических свойств полупроводника при моделировании тепловых полей.

Ключевые слова:
публикации ученых, полупроводниковая структура, тепловой пробой, тепловые модели, МЭМИ

Тип: Статья