Поиск

Материалов:
1 005 012

Репозиториев:
30

Авторов:
761 409

Автор

Ключевое слово

Тип статьи

DOI

ORCID

Дополнительно:

Период публикации

Репозиторий

По вашему запросу найдено документов: 36190

Страница 2 из 3619

Статистическое прогнозирование для отбраковки потенциально ненадёжных изделий электронной техники

Боровиков, С. М., Borovikov, S. M.

прогнозирования надёжности изделий электронной техники, предложены и исследованы новые методы, позволяющие более

Экспериментальное определение энергии активации процессов старения изделий электронной техники по результатам ускоренных испытаний

Струц, А. М., Боровская, О. О., Масловский, И. С.

процессах, приводящих к отказам изделий электронной техники (ИЭТ), является физическая модель.

Прогнозирование надежности изделий электронной техники с использованием деградационных моделей функциональных параметров

Бересневич, А. И.

Причины возникновения внезапных отказов изделий электронной техники (ИЭТ) могут быть в значительной

Получение математических моделей функциональных параметров изделий электронной техники в задачах прогнозирования надёжности

Шнейдеров, Е. Н., Бересневич, А. И., Шалак, А. В., Бруй, А. А.

Для получения прогноза о параметрической надёжности выборки изделий электронной техники (ИЭТ) надо

Модели на основе распределения Вейбулла-Гнеденко для описания деградации функциональных параметров изделий электронной техники

Боровиков, С. М., Borovikov, S. M.

изделий электронной техники

Математическая модель деградации функционального параметра изделий электронной техники

Дик, С. К., Цырельчук, И. Н., Боровиков, С. М., Шнейдеров, Е. Н., Borovikov, S. M.

Математическая модель деградации функционального параметра изделий электронной техники

Модели прогнозирования класса работоспособности изделий электронной техники на основе преобразования их информативных параметров в дискретный код

Боровиков, С. М.

Модели прогнозирования класса работоспособности изделий электронной техники на основе

Прогнозирование надежности изделий электронной техники по постепенным отказам методом имитационных воздействий

Боровиков, С. М.

Прогнозирование надежности изделий электронной техники по постепенным отказам методом имитационных

Прогнозирование надежности изделий электронной техники методом пороговой логики

Боровиков, С. М., Бересневич, А. И., Хмыль, А. А., Емельянов, А. В., Цырельчук, И. Н., Borovikov, S. M., Berasnevich, A. I., Khmyl, A. A., Emelyanov, A. V., Tsyrelchyk, I. N.

Предлагается метод прогнозирования надежности изделий электронной техники по инфор- мативным

Интервальный прогноз деградации электрических параметров изделий электронной техники

Боровиков, С. М.

изделий электронной техники (ИЭТ) методом имитационных воздействий, о достоверности

Страница 2 из 3619