Поиск

Материалов:
1 005 012

Репозиториев:
30

Авторов:
596 024

Автор

Ключевое слово

Тип статьи

DOI

ORCID

Дополнительно:

Период публикации

Репозиторий

По вашему запросу найдено документов: 854957

Страница 3 из 85496

Фотоэлектрический метод контроля параметров дефектов и носителей заряда в полупроводниковых структурах

Пастухова, О. В., Сопряков, В. И.

Фотоэлектрический метод контроля параметров дефектов и носителей заряда в полупроводниковых

Метод измерения времени жизни неравновесных носителей заряда в P-N-структурах

Галяс, А. В., Сопряков, В. И.

Метод измерения времени жизни неравновесных носителей заряда в P-N-структурах

Измерение электрических характеристик кремниевых импульсных диодов с примесью золота

Шлеведа, Ю. В., Сопряков, В. И.

Электрические характеристики облученных импульсных диодов на основе кремния с примесью золота

Шлыкевич, Ю. В., Сопряков, В. И.

Информационно-измерительная система для контроля механических параметров энергетических турбоагрегатов

Семенов, В. Г., Сопряков, В. И.

Исследование корреляции времени жизни носителей заряда в p–n-структурах с технологией их изготовления

Полхутенко, С. А., Сопряков, В. И.

Исследование корреляции времени жизни носителей заряда в p–n-структурах с технологией их

Метод расчета времени жизни носителей заряда по результатам измерений фототока в Р-N-структурах

Полещук, П. А., Сопряков, В. И.

Метод расчета времени жизни носителей заряда по результатам измерений фототока в Р-N-структурах

Фотоэлектрический метод измерения времени жизни носителей заряда в р-n-структурах

Головня, К. Ч., Сопряков, В. И.

Фотоэлектрический метод измерения времени жизни носителей заряда в р-n-структурах

Методы контроля качества силовых кремниевых диодов и структур

Рубин, Д. С., Сопряков, В. И.

Методы контроля качества силовых кремниевых диодов и структур

Неразрушающий контроль материалов и структур силовой полупроводниковой электроники методом фотоэффекта

Шатун, А. А., Сопряков, В. И.

Неразрушающий контроль материалов и структур силовой полупроводниковой электроники методом

Страница 3 из 85496