Резонансно-поисковый метод анализа процесса развития пластических деформаций в поликристаллахРезонансно-поисковый метод анализа процесса развития пластических деформаций в поликристаллах
Резонансно-поисковый метод анализа процесса развития пластических деформаций в поликристаллахРезонансно-поисковый метод анализа процесса развития пластических деформаций в поликристаллах
Исследование двухбарьерной резонансно- туннельной структуры на основе GaAs/AlAs с использованием комбинированной двухзонной моделиАбрамов, И. И.,
Гончаренко, И. А.,
Коломейцева, Н. В.,
Abramov, I. I.,
Goncharenko, I. A.,
Kolomejtseva, N. V. характеристики (ВАХ) двухбарьерной
резонансно-туннельной структуры (РТС)
на основе GaAs/AlAs с протяженными
Численное моделирование трехбарьерных резонансно-туннельных диодов на основе графена-амперные характеристики (ВАХ) трех-, четырех- и пятибарьерных
резонансно-туннельных диодов (РТД) на основе графена на