Поиск

Материалов:
1 005 012

Репозиториев:
30

Авторов:
596 024

Автор

Ключевое слово

Тип статьи

DOI

ORCID

Дополнительно:

Период публикации

Репозиторий

По вашему запросу найдено документов: 265085

Страница 1 из 26509

Измерения малых вращений плоскости поляризации

Свиташев, К.К., Хасанов, Т.

Об измерении параметров тонких двухслойных диэлектрических пленок на полупроводниковых подложках эллипсометрическим методом

Свиташев, К.К., Семененко, А.И., Семененко, Л.В., Соколов, В.К.

О точности и чувствительности метода эллипсометрии

Свиташев, К.К., Семененко, А.И., Семененко, Л.В., Соколов, В.К., Филатова, Е.С.

Общее выражение для интенсивности рабочего светового пучка на выходе идеального эллипсометра

Свиташев, К.К., Филатова, Е.С.

Система автоматизации эллипсометрических измерений

Блюмкина, Ю.А., Алгазин, Ю.Б., Архипенко, А.В., Свиташев, К.К., Степанов, С.А.

Определение оптических постоянных одноосных кристаллов с учетом поверхностной изотропной пленки из эллипсометрических измерений

Любинская, Р.И., Мардежов, А.С., Свиташев, К.К., Хасанов, Т.

применения предложенного метода. Все полученные результаты относятся к одноосным кристаллам, вырезанным

Оптические постоянные атомарно-чистой поверхности германия и кремния и их температурные зависимости

Алгазин, Ю.Б., Блюмкина, Ю.А., Гребнев, Н.И., Свиташев, К.К., Семененко, Л.В., Яблонцева, Т.М.

температур от комнатной до близкой к температуре плавления материалов.

Структурно-фазовые превращения в термообработанных тонкопленочных боросилоксанах

Ястребинский, Р. Н., Павленко, В. И., Ястребинская, А. В., Денисова, Н. А.

боросиликатного покрытия приводит к уменьшению его пористости. Плотность упаковки олигомерных молекул

Моделирование системы крепления эллипсометра с использованием CAD

Ефремов, Александр В., Овчинников, Сергей Г., Варнаков, Сергей Н., Косырев, Николай Н., Efremov, Alexander V., Ovchinnikov, Sergey G., Varnakov, Sergey N., Kosyrev, Nikolay N.

Кавитационная эрозия облучением звуковой волной

К. К. Шальнев, К. К.

Страница 1 из 26509