Поиск

Материалов:
1 005 012

Репозиториев:
30

Авторов:
596 024

Автор

Ключевое слово

Тип статьи

DOI

ORCID

Дополнительно:

Период публикации

Репозиторий

По вашему запросу найдено документов: 10924

Страница 1 из 1093

Двухсторонняя литография - решение проблем отвода тепла и разводки межсоединений

Плебанович, В. И., Plebanovich, V. I.

По мере повышения степени интеграции ИМС возникают две проблемы. Первая – увеличивается площадь

Особенности моделирования ИМС c нанометровыми размерами элементов

Стемпицкий, В. Р., Боровик, А. М.

Особенности моделирования ИМС c нанометровыми размерами элементов

Проектирование и технология электронной компонентной базы. Конструирование и технология интегральных схем

. Рассматриваются основные понятия, используемые в микроэлектронике, классификация интегральных микросхем (ИМС), их

Проектирование и технология электронной компонентной базы. Конструирование и технология интегральных схем

. Рассматриваются основные понятия, используемые в микроэлектронике, классификация интегральных микросхем (ИМС), их

Современные методы и оборудование для исследования полупроводниковых структур микро- и наноэлектроники в центре коллективного пользования "Белмикроанализ" ОАО"ИНТЕГРАЛ"

Солодуха, В. А., Петлицкий, А. Н., Петлицкая, Т. В., Пилипенко, В. А., Ковальчук, Н. С.

анализ отказов ИМС

Ионно-лучевые технологии как средство анализа топологии интегральной микросхемы (ИМС)

Кабак, Т. В.

избирательного препарирования ИМС, но и дают доступ к ранее невозможным операциям ремонта и модификации сложных

Анализ топологии фрагмента сечения интегральной микросхемы (ИМС) с использованием микроскопа с фокусированным ионным пучком

Кабак, Т. В.

Проводится анализ топологии фрагмента сечения интегральной микросхемы (ИМС) с использованием

Анализ отказа интегральной микросхемы (ИМС) с использованием микроскопа с фокусированным ионным пучком

Кабак, Т. В.

В современном мире повсеместно применяются электронные устройства, основой которых являются ИМС

Выявление дефектов интегральной микросхемы (ИМС) посредством ионно-лучевого травления

Кабак, Т. В., Петлицкая, Т. В.

ИМС, но также позволяют осуществлять модификацию или ремонт сложных объектов посредством

Оптимизация конструктивно-технологических параметров элементной базы радиационно-стойких интегральных микросхем

Ловшенко, И. Ю., Дворников, О. В., Стемпицкий, В. Р.

проектирования ИМС

Страница 1 из 1093